Kniha momentálne nie je na sklade

InduLIT: induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik

Autori

Johannes Bohm

Parametre

Kategórie

Skriptá a vysokoškolské učebnice

Séria: System integration in electronic packaging

Nákup knihy

InduLIT: induktiv angeregte Lock-in-Thermografie zur zerstörungsfreien Funktionsprüfung in der Elektronik, Johannes Bohm

Jazyk
Rok vydania: 2015

Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.

Doručenie

Platobné metódy

Navrhnúť zmenu