Kniha momentálne nie je na sklade

Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices

Autori

Paul Pfäffli

Parametre

Kategórie

Skriptá a vysokoškolské učebnice

Séria: Series in microelectronics

Nákup knihy

Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices, Paul Pfäffli

Jazyk
Rok vydania: 1999

Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.

Doručenie

Platobné metódy

Navrhnúť zmenu