Kniha momentálne nie je na sklade

Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices

Autori

Paul Pfäffli

Parametre

Nákup knihy

Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices, Paul Pfäffli

Jazyk
Rok vydania: 1999

Akonáhle sa objaví, pošleme e-mail.

Doručenie

Platobné metódy

Nikto zatiaľ neohodnotil.Ohodnotiť

Informácie o vydaníNavrhnúť zmenu