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Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen niederdimensionaler Halbleiter zur Charakterisierung von Struktur und chemischer Zusammensetzung

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Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen niederdimensionaler Halbleiter zur Charakterisierung von Struktur und chemischer Zusammensetzung, Ines Häusler

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2007
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