Kniha momentálne nie je na sklade

Thin film analysis by x-ray scattering

Autori

Mario Birkholz

Parametre

ISBN: 9783527310524
Vydavateľstvo: Wiley-VCH

Kategórie

Fyzika

Navrhnúť zmenu

Variant knihy

2006

Nákup knihy

Kniha momentálne nie je na sklade.