Kniha momentálne nie je na sklade![](/images/blank-book/blank-book.1920.jpg)
![](/images/blank-book/blank-book.1920.jpg)
Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden
Autori
Parametre
Nákup knihy
Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden, Christine Schmidt-König
- Jazyk
- Rok vydania
- 2000
Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.
Doručenie
Platobné metódy
Navrhnúť zmenu
- Titul
- Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden
- Jazyk
- nemecky
- Autori
- Christine Schmidt-König
- Vydavateľ
- Shaker
- Rok vydania
- 2000
- ISBN10
- 3826569369
- ISBN13
- 9783826569364
- Kategórie
- Skriptá a vysokoškolské učebnice