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Inhaltsverzeichnis1 Einleitung.2 Erfahrungen mit dem Prüfplatz für Leiterplattengeräte.2.1 Hardware-Aufbau.2.2 Testmuster.2.3 Hardware-Erweiterung.3 Vorbereitung des Programms DIALOG.3.1 Anforderungen.3.2 Konzepte.3.3 Der Vereinbarungsteil.3.4 Musterteil.3.5 Fehlerstop.3.6 Manuelle Prüfung.4 Ausführung des Programms DIALOG.4.1 Struktur.4.2 Hauptprogramm.4.3 Subroutine VEREIN.4.4 Subroutine ZEILE.4.5 Subroutine FUS.4.6 Codierung und Decodierung.5 Testläufe.5.1 Vorbemerkung.5.2 Speichertest.5.3 Bustest.5.4 Registerkettentest.6 Auswertung.6.1 Aussagen des Speichertests.6.2 Aussagen des Bustests.6.3 Aussagen des Registerkettentests.6.4 Verallgemeinerung.7 Zusammenfassung.8 Ausblick.9 Literatur.10 Anhang.10.1 Ergebnisse des Speichertests mit Kurzschluß.10.2 Ergebnisse des Speichertests mit Kondensator.10.3 Ergebnisse des Bustests mit Kurzschluß.10.4 Ergebnisse des Bustests mit Kondendator.10.5 Ergebnisse des Registerkettentests mit Kurzschluß.10.6 Ergebnisse des Registerkettentests mit Kondensator.
Nákup knihy
Entwurf und Aufbau eines CAD-Prüfplatzes für komplexe Digitalschaltungen, Hans Jörg Tafel
- Jazyk
- Rok vydania
- 1981
Doručenie
Platobné metódy
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- Titul
- Entwurf und Aufbau eines CAD-Prüfplatzes für komplexe Digitalschaltungen
- Jazyk
- nemecky
- Autori
- Hans Jörg Tafel
- Vydavateľ
- Westdeutscher Verlag
- Vydavateľ
- 1981
- ISBN10
- 3531030523
- ISBN13
- 9783531030524
- Anotácia
- Inhaltsverzeichnis1 Einleitung.2 Erfahrungen mit dem Prüfplatz für Leiterplattengeräte.2.1 Hardware-Aufbau.2.2 Testmuster.2.3 Hardware-Erweiterung.3 Vorbereitung des Programms DIALOG.3.1 Anforderungen.3.2 Konzepte.3.3 Der Vereinbarungsteil.3.4 Musterteil.3.5 Fehlerstop.3.6 Manuelle Prüfung.4 Ausführung des Programms DIALOG.4.1 Struktur.4.2 Hauptprogramm.4.3 Subroutine VEREIN.4.4 Subroutine ZEILE.4.5 Subroutine FUS.4.6 Codierung und Decodierung.5 Testläufe.5.1 Vorbemerkung.5.2 Speichertest.5.3 Bustest.5.4 Registerkettentest.6 Auswertung.6.1 Aussagen des Speichertests.6.2 Aussagen des Bustests.6.3 Aussagen des Registerkettentests.6.4 Verallgemeinerung.7 Zusammenfassung.8 Ausblick.9 Literatur.10 Anhang.10.1 Ergebnisse des Speichertests mit Kurzschluß.10.2 Ergebnisse des Speichertests mit Kondensator.10.3 Ergebnisse des Bustests mit Kurzschluß.10.4 Ergebnisse des Bustests mit Kondendator.10.5 Ergebnisse des Registerkettentests mit Kurzschluß.10.6 Ergebnisse des Registerkettentests mit Kondensator.