Kniha momentálne nie je na sklade
Thermoelastic analysis of devices by scanning near field thermal microscopy techniques
Autori
Parametre
Kategórie
Nákup knihy
Thermoelastic analysis of devices by scanning near field thermal microscopy techniques, Anne Katrin Geinzer
- Jazyk
- Rok vydania
- 2010
Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.
Doručenie
Platobné metódy
2021 2022 2023
Navrhnúť zmenu
- Titul
- Thermoelastic analysis of devices by scanning near field thermal microscopy techniques
- Jazyk
- anglicky
- Autori
- Anne Katrin Geinzer
- Vydavateľ
- Der Andere Verl.
- Rok vydania
- 2010
- ISBN10
- 3862470970
- ISBN13
- 9783862470976
- Kategórie
- Skriptá a vysokoškolské učebnice