Kniha momentálne nie je na sklade

Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen

Autori

Andreas Leyk

Parametre

ISBN: 9783183694082
Vydavateľstvo: VDI-Verl.

Kategórie

Navrhnúť zmenu

Variant knihy

1998

Nákup knihy

Kniha momentálne nie je na sklade.