Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
Autori
Parametre
Kategórie
Viac o knihe
Zum Werk Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt. Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen. Vorteile auf einen Blick - Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen - Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt - Details der Punktevergabe - Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen - Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen - Tabellen als Bearbeitungshilfen - praktische Tipps für die Prüfung Zielgruppe: Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.
Nákup knihy
Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP), Daniel Herrmann
- Jazyk
- Rok vydania
- 2017
Doručenie
Platobné metódy
2021 2022 2023
Navrhnúť zmenu
- Titul
- Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
- Jazyk
- anglicky
- Autori
- Daniel Herrmann
- Vydavateľ
- C.H. Beck
- Rok vydania
- 2017
- ISBN10
- 3406707890
- ISBN13
- 9783406707896
- Kategórie
- Právnická literatúra
- Anotácia
- Zum Werk Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt. Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen. Vorteile auf einen Blick - Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen - Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt - Details der Punktevergabe - Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen - Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen - Tabellen als Bearbeitungshilfen - praktische Tipps für die Prüfung Zielgruppe: Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.