Kniha momentálne nie je na sklade
Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices
Autori
Parametre
Nákup knihy
Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices, Markus Zmeck
- Jazyk
- Rok vydania
- 2004
Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.
Doručenie
Platobné metódy
2021 2022 2023
Navrhnúť zmenu
- Titul
- Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices
- Jazyk
- anglicky
- Autori
- Markus Zmeck
- Vydavateľ
- Shaker
- Rok vydania
- 2004
- Väzba
- mäkká
- ISBN10
- 3832234284
- ISBN13
- 9783832234287
- Séria
- Berichte aus der Energietechnik
- Kategórie
- Skriptá a vysokoškolské učebnice