Kniha momentálne nie je na sklade

Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung

Autori

Eberhard Schmidt-Sommerfeld

Parametre

Kategórie

Fototechnika, kamerová technika, teória fotenia a kamery

Séria: Berichte aus der Verfahrenstechnik

Nákup knihy

Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung, Eberhard Schmidt-Sommerfeld

Jazyk
Rok vydania: 2001

Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.

Doručenie

Platobné metódy

Navrhnúť zmenu