Kniha momentálne nie je na sklade
Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
Autori
Parametre
Nákup knihy
Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren, Reiner Schieck
- Jazyk
- Rok vydania
- 1998
Akonáhle sa objaví, pošleme vám e-mail.
Doručenie
Platobné metódy
2021 2022 2023
Navrhnúť zmenu
- Titul
- Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
- Jazyk
- nemecky
- Autori
- Reiner Schieck
- Vydavateľ
- Shaker
- Rok vydania
- 1998
- ISBN10
- 3826539958
- ISBN13
- 9783826539954
- Séria
- Berichte aus der Halbleitertechnik
- Kategórie
- Skriptá a vysokoškolské učebnice