Kniha momentálne nie je na sklade

Zur Herstellung und elektrischen Charakterisierung von Gate-Oxiden auf Siliziumkarbid

Autori

Elard Gottfried Stein von Kamienski

Parametre

ISBN: 9783826520303
Vydavateľstvo: Shaker

Kategórie

Navrhnúť zmenu

Variant knihy

1996

Nákup knihy

Kniha momentálne nie je na sklade.